Máy đo độ dày lớp phủ 3nh YT4200-P1

Liên hệ

Máy đo độ dày lớp phủ YT4200 có thể phát hiện độ dày của nhiều lớp phủ không từ tính trên nền kim loại từ tính một cách nhanh chóng và chính xác
Thiết bị này hoàn toàn tuân thủ nguyên lý thử nghiệm từ tính được chỉ định trong ISO 2178, GB / T 4956, ASTM b499 và các tiêu chuẩn khác
Được sử dụng rộng rãi trong ngành sản xuất, ngành chế biến kim loại, ngành hóa chất và các lĩnh vực phát hiện kỹ thuật bề mặt khác. Đây là thiết bị cơ bản của ngành xử lý bề mặt lớp phủ.
Đầu dò gốc Fe có thể phát hiện độ dày của nhiều lớp phủ không từ tính được phun trên nhiều lớp nền từ tính (như thép), chẳng hạn như lớp sơn, lớp phun bột, lớp phủ sứ, lớp phủ crom, lớp phủ đồng, lớp phủ kẽm, v.v.

Máy đo độ dày lớp phủ tích hợp đế sắt
Tiêu chuẩn: ASTM B499, ASTM D1400, ISO 2178, ISO 2360, ISO 2808, GB/T 4956/4957, JB/T 8393
Chất liệu: Fe
Cấu trúc: tích hợp đế sắt
Dải đo: 0-1250µm (0-1.25mm)
Độ phân giải: 0.1µm (0-99.9 µm) và 1µm (trên 100 µm)
Độ chính xác:
- Hiệu chỉnh điểm không: ±(3%H+1)µm
- Hiệu chỉnh 2 điểm: ±(1-3%H+1.5)µm
- H là độ dày mẫu
Kích thước đo tối thiểu: 10 x 10 mm
Độ dày đo tối thiểu: Từ tính: 0.2 mm
Độ cong tối thiểu:
- Bán kính độ cong lồi: 5 mm
- Bán kính độ cong lõm: 10 mm
Nguồn cấp: 2 pin AA hoặc pin pin sạc
Kích thước: 102 x 66 x 24 mm
Khối lượng: khoảng 99 g (kèm pin)
Môi trường hoạt động: 0-40°C (10-90% RH không ngưng tụ)
Môi trường bảo quản: -10-50°C