Máy kiểm tra thành phần điện tử X-ray Nikon XT V 130C

Máy kiểm tra thành phần điện tử X-ray Nikon XT V 130C - Ảnh 2

Máy kiểm tra thành phần điện tử X-ray Nikon XT V 130C - Ảnh 3

Máy kiểm tra thành phần điện tử X-ray Nikon XT V 130C - Ảnh 4

Máy kiểm tra thành phần điện tử X-ray Nikon XT V 130C

Liên hệ

SKU: XT V 130C Danh mục: Máy kiểm tra khuyết tật, Thiết bị kiểm tra không phá hủy - NDT Thẻ: Nikon, XT V 130C Nikon Thương hiệu: Nikon

Thông số kỹ thuật

kV tối đa: 130 kV
Công suất chùm electron tối đa: 10 W
Nguồn tia X: Đèn phát tia X hở
Kích thước tiêu điểm: 3 μm
Tính năng nhận dạng khuyết tật: 2 μm
Độ phóng đại hình học: 2046x
Độ phóng đại hệ thống: lên đến 36000x
Hệ thống hình ảnh: Varex 1313DX (1 Mpixel, 16 bit) Flatpanel
Điều khiển: 4 trục (X, Y, Z, T)
Trục quay: Tùy chọn
Độ nghiêng: 0-72°
Thể tích đo lường:

Hình vuông lớn nhất trong một bản đồ 406 x 406 mm (16 x 16")
Kích thước mẫu vật lý tối đa 711 x 762 mm (28 x 30")

Trọng lượng mẫu tối đa: 5 kg (11 lbs)
Màn hình điều khiển: IPS 4k đơn ( 3840 x 2160 pixels)
Kích thước cabin (R x S x C): 1200 x 1786 x 1916 mm (48 x 71.3 x 75.4")
Trọng lượng: 2100 kg (4629 lbs)
An toàn bức xạ: <1 μSv/giờ ở bề mặt cabin
Kiểm soát: Phần mềm kiểm soát và phân tích kiểm tra tia X
Tự động kiểm tra: Tùy chọn
Chụp cắt lớp vi tính/X quang: Tùy chọn
Ứng dụng chính: Kiểm tra thiết bị điện tử thời gian thực